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測(cè)試點(diǎn)
LTEST30?Test Pin
測(cè)試點(diǎn)，焊于電子、計(jì)算機(jī)電路板上重要測(cè)試端點(diǎn)，可勾掛探棒，不短路，鍍金鍍錫接觸良好，不氧化。
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- 產(chǎn)品提供:Nowking
- 產(chǎn)品名稱:測(cè)試點(diǎn)
- 產(chǎn)品系列:測(cè)試點(diǎn)
- 產(chǎn)品別名:測(cè)試點(diǎn)
- 樣本語言:簡(jiǎn)體中文
- 英文名稱:Test Pin
- 產(chǎn)品全稱:Nowking測(cè)試點(diǎn)
- 產(chǎn)品類別:測(cè)試點(diǎn)
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- 產(chǎn)品來源:測(cè)試點(diǎn)
測(cè)試點(diǎn) LTEST30
◆ MATERIAL ：PBT(UL)
◆ FLAME CLASS : 94V-0
◆ PIN MAERIAL ：PHOSPHOR BRONZE
◆ UNIT：mm
◆ PIN FINISH：TIN PLATED
用途： 測(cè)試點(diǎn),焊于電子、計(jì)算機(jī)電路板上重要測(cè)試端點(diǎn)，可勾掛探棒不虞短路，鍍金接觸良好，不氧化。
試點(diǎn)LTEST30.png "測(cè)試點(diǎn)LTEST30")